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【Siglent新產品發佈】最具CP值的8通道，不用百萬便可入手帶螢幕的12bit高解析示波器 - SDS5000X HD及SDS5000L系列!!
Siglent 推出最具CP值的8通道，不用百萬便可入手帶螢幕的12bit高解析示波器 - SDS5000X HD及SDS5000L系列!!
2025年6月20日：鼎陽科技推出其高性能12bit示波器產品線的最新成員：SDS5000X HD和SDS5000L系列。這兩款新型示波器提供高達8個通道，頻寬高達1 GHz，標誌著鼎陽科技多通道平台戰略的重大進展。
先進電力電子技術的興起推動了汽車、再生能源和工業自動化等產業的加速轉型。高效能逆變器、寬頻隙半導體的轉型以及緊密整合的控制迴路正在突破傳統測試工具的極限。隨著系統變得更加緊湊和強大，工程師必須以更高的精度觀測和關聯多個域中的更多訊號。傳統的示波器是為執行簡單任務而設計，往往難以滿足需求。現今的開發工作流程需要多通道儀器，能夠提供深入的洞察、高訊號保真度和以應用為中心的分析能力，以滿足下一代電力和控制系統日益增長的複雜性。
2025年6月20日：鼎陽科技推出其高性能12位示波器產品線的最新成員：SDS5000X HD 和 SDS5000L 系列。這兩款新型示波器提供高達8通道、高達1 GHz的頻寬，標誌著鼎陽科技多通道平台戰略的重大進步。憑藉高速採樣和深內存架構，這兩款儀器旨在提供對複雜訊號環境的可靠洞察。結合全面的分析工具，SDS5000X HD 和 SDS5000L 旨在滿足當今電力電子、嵌入式系統和自動化測試應用的變化需求。
可擴展且靈活的解決方案
SDS5000X HD 型號配備大型、直觀易用的觸控螢幕介面，非常適合桌上型測試和互動式調試；而 SDS5000L 機架式型號則針對整合到自動化測試系統進行了最佳化，提供完全遠端控制和節省空間的設計，無需內置顯示器。這些產品使工程師能夠靈活地選擇適合其工作流程的工具，無論是在實際操作的研發實驗室還是全自動驗證環境中。我們的目標是提供強大且可擴展的解決方案，以滿足現代測試環境的複雜性。
SDS5000X HD 型號配備大型、直觀易用的觸控螢幕介面，非常適合桌上型測試和互動式調試；而 SDS5000L 機架式型號則針對整合到自動化測試系統進行了最佳化，提供完全遠端控制和節省空間的設計，無需內置顯示器。這些產品使工程師能夠靈活地選擇適合其工作流程的工具，無論是在實際操作的研發實驗室還是全自動驗證環境中。我們的目標是提供強大且可擴展的解決方案，以滿足現代測試環境的複雜性。
符合高要求的先進性能
SDS5000X HD 和 SDS5000L 系列提供應對嚴苛測量挑戰所需的性能。高達 5 GSa/s 的取樣率使工程師能夠高精度地捕捉快速訊號轉換。每條通道支援高達 500 Mpts 的記憶體（所有通道均處於活動狀態），可實現高解析度的長時間採集，非常適合分析協定序列。在四分之一通道模式下，每通道記憶體深度可擴展至 2.5 Gpts，支援在更長時間跨度內進行深度訊號分析。 1 GHz 時高達 8.2 的有效位數 (ENOB) 確保了出色的動態範圍和訊號精度，即使在全頻寬下也是如此。結合 1 GHz 時僅 140 µVrms 的超低本底噪聲，新型號提供清晰、細緻的信號可視性，這對於在敏感的模擬、電源和混合信號環境中進行精確調試至關重要。
SDS5000X HD 和 SDS5000L 系列提供應對嚴苛測量挑戰所需的性能。高達 5 GSa/s 的取樣率使工程師能夠高精度地捕捉快速訊號轉換。每條通道支援高達 500 Mpts 的記憶體（所有通道均處於活動狀態），可實現高解析度的長時間採集，非常適合分析協定序列。在四分之一通道模式下，每通道記憶體深度可擴展至 2.5 Gpts，支援在更長時間跨度內進行深度訊號分析。 1 GHz 時高達 8.2 的有效位數 (ENOB) 確保了出色的動態範圍和訊號精度，即使在全頻寬下也是如此。結合 1 GHz 時僅 140 µVrms 的超低本底噪聲，新型號提供清晰、細緻的信號可視性，這對於在敏感的模擬、電源和混合信號環境中進行精確調試至關重要。
多通路應用重點分析
8 通道示波器可同時連接所有電壓和電流訊號，以實現全面的三相功率分析。此同步擷取功能可確保對所有相位的波形和關鍵參數進行精確、即時的測量。工程師可以直接觀察和比較相位關係，以檢測不平衡情況並驗證系統性能。示波器內建 FFT 功能，也支援對三相繫統進行詳細的諧波分析。可選的應用軟體透過提供向量圖視覺化功能，進一步擴展了其功能，可用於馬達診斷、電能品質評估、紋波測量和整體系統效率分析。
除了功率分析之外，現代電子系統越來越依賴多個整合晶片和模組，它們的初始化和操作必須精心協調，以避免不確定的狀態。上電序列測試可以驗證來自不同電路模組的訊號是否遵循正確的時序，從而確保系統穩定性並防止通訊系統中的資料傳輸錯誤等問題。隨著電路複雜度的增加，上電測試的挑戰也日益嚴峻。 SDS5000X HD 透過在單次擷取中擷取所有相關訊號的整個上電過程來解決這個問題。這顯著縮短了測量時間，提高了效率，並最大限度地減少了重複測試帶來的錯誤。對於包含多達八個電源軌的複雜設計，這種一次性測量功能是可靠驗證的強大工具。
針對 SiC 和 GaN 電力電子裝置的精確測量
隨著鼎陽科技最新的 8 通道示波器和新型光隔離差分探頭系列 ODP6000B 的推出，寬頻隙 (WBG) 半導體測試中的一個關鍵空白現已得到填補。 SDS5000X HD 提供皮秒上升時間性能，能夠精確捕捉碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 裝置的快速開關行為特性。它提供開關事件期間電壓和電流瞬變的詳細分析，包括過衝、振鈴和其他動態效應。這些功能可協助工程師優化電路效能並確保高效能電源設計中的訊號完整性。作為這些功能的補充，ODP6000B 探頭提供 500 MHz 和 1 GHz 的頻寬，並在低頻下具有 160 dB 的出色共模抑制比 (CMRR)，進一步提高了先進 WBG 裝置測量所需的精度和抗噪能力。
結論：
隨著 SDS5000X HD 和 SDS5000L 系列以及光隔離 ODP6000B 探頭的推出，鼎陽科技 (Siglent) 提供了強大且可擴展的測量解決方案，以滿足現代電力電子和複雜嵌入式系統的需求。高通道數、卓越的訊號保真度、深記憶體和多功能分析能力的結合，能夠精確洞察各種高要求應用——從三相功率分析和上電序列測試到寬頻隙半導體的高速特性分析。無論是在實驗室中或整合到自動化測試裝置中，鼎陽科技都能提供提升開發工作流程效率、準確性和可靠性的工具。
隨著鼎陽科技最新的 8 通道示波器和新型光隔離差分探頭系列 ODP6000B 的推出，寬頻隙 (WBG) 半導體測試中的一個關鍵空白現已得到填補。 SDS5000X HD 提供皮秒上升時間性能，能夠精確捕捉碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 裝置的快速開關行為特性。它提供開關事件期間電壓和電流瞬變的詳細分析，包括過衝、振鈴和其他動態效應。這些功能可協助工程師優化電路效能並確保高效能電源設計中的訊號完整性。作為這些功能的補充，ODP6000B 探頭提供 500 MHz 和 1 GHz 的頻寬，並在低頻下具有 160 dB 的出色共模抑制比 (CMRR)，進一步提高了先進 WBG 裝置測量所需的精度和抗噪能力。
結論：
隨著 SDS5000X HD 和 SDS5000L 系列以及光隔離 ODP6000B 探頭的推出，鼎陽科技 (Siglent) 提供了強大且可擴展的測量解決方案，以滿足現代電力電子和複雜嵌入式系統的需求。高通道數、卓越的訊號保真度、深記憶體和多功能分析能力的結合，能夠精確洞察各種高要求應用——從三相功率分析和上電序列測試到寬頻隙半導體的高速特性分析。無論是在實驗室中或整合到自動化測試裝置中，鼎陽科技都能提供提升開發工作流程效率、準確性和可靠性的工具。