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【Siglent中國國內新產品消息!!】鼎陽科技推出SDG3000X任意波形產生器，支援40Mpts儲存深度與1.2GSa/s取樣率
2025年2月18日，鼎陽科技推出新一代任意波形產生器SDG3000X系列，此系列產品具有16-bit垂直分辨率，最高200MHz輸出頻率，1.2GSa/s採樣率，每通道最大存儲深度40Mpts，並採用了創新的EasyPulse和TrueArb波形技術，顯著降低抖動技術，顯著降低抖動技術。
除此之外，SDG3000X內建任意波形大於196種，配備7吋電容觸控屏，支援直覺的操作設置，還具有序列波發生、雜訊發生、諧波發生、IQ訊號發生、PRBS碼型發生和各種複雜訊號產生的能力，支援多脈衝輸出，助力功率元件雙脈衝測試。 SDG3000X是一款多功能波形產生設備，廣泛應用於通訊、半導體、新能源及研究教育等領域，為不同測試方案提供更多的選擇。
高保真訊號生成，精準復現每一個細節
SDG3000X採用創新的EasyPulse和TrueArb技術，重新定義了訊號產生的精度標準。 TrueArb技術支援逐點輸出任意波形，取樣率涵蓋10mSa/s~600MSa/s，在確保波形細節完整的同時，實現抖動低至150ps、總諧波失真低於0.075%的高保真訊號輸出。
高精度脈衝生成，靈活調節邊緣脈寬
EasyPulse技術則專為脈衝訊號優化，可產生最小脈寬8ns、佔空比極小、上升/下降沿快速且不受頻率影響的脈衝波形，支援邊緣和脈寬大範圍精細調節，SDG3000X是產生高精度脈衝訊號的理想裝置。
40Mpts/ch任意波長度，完美復現訊號
SDG3000X內建196種任意波形，40Mpts/ch大容量波形記憶體可完整儲存且高精度重複複雜訊號細節，結合彈性的序列播放功能，輕鬆設定各段波形循環次數及波形播放順序，滿足多樣化的測試需求。
靈活訊號生成，覆蓋複雜測試需求
SDG3000X支援120Mbps PRBS碼型輸出，並可在250~50MSymb/s符號速率範圍內產生優異EVM性能的基頻或中頻IQ訊號，及多種調變功能（AM/DSB-SC/FM/PM/FSK/ASK/PSK/PWM）。結合Sweep和Burst功能，SDG3000X輕鬆應對從科學研究教育到功率元件測試的全場景挑戰。
雙脈衝測試方案，助力半導體測試
雙脈衝測試是半導體功率元件動態特性分析的關鍵方法，用於評估開關損耗、導通特性等核心參數。結合通道追蹤與相位同步技術，SDG3000X支援精確控制脈衝寬度與間隔，適配IGBT、SiC MOSFET等裝置的多場景測試需求。透過USB/LAN遠端控制及示波器連動功能，SDG3000X輔助用戶快速建置自動化測試系統，提升測試效率與資料可靠性。
智慧互動體驗，操作更有效率便捷
SDG3000X配備7吋觸控屏，支援直覺的參數設定與訊號查看，簡化操作過程，並支援MATLAB、Python腳本導入及示波器連動進行自動校準。內建硬體高精度頻率計，配備LAN、USB、GPIB等多種通訊介面及內建WebServer，SDG3000X實現多設備級聯同步與遠端控制，全面提升測試效率與操作便利性。
除此之外，SDG3000X內建任意波形大於196種，配備7吋電容觸控屏，支援直覺的操作設置，還具有序列波發生、雜訊發生、諧波發生、IQ訊號發生、PRBS碼型發生和各種複雜訊號產生的能力，支援多脈衝輸出，助力功率元件雙脈衝測試。 SDG3000X是一款多功能波形產生設備，廣泛應用於通訊、半導體、新能源及研究教育等領域，為不同測試方案提供更多的選擇。
高保真訊號生成，精準復現每一個細節
SDG3000X採用創新的EasyPulse和TrueArb技術，重新定義了訊號產生的精度標準。 TrueArb技術支援逐點輸出任意波形，取樣率涵蓋10mSa/s~600MSa/s，在確保波形細節完整的同時，實現抖動低至150ps、總諧波失真低於0.075%的高保真訊號輸出。
高精度脈衝生成，靈活調節邊緣脈寬
EasyPulse技術則專為脈衝訊號優化，可產生最小脈寬8ns、佔空比極小、上升/下降沿快速且不受頻率影響的脈衝波形，支援邊緣和脈寬大範圍精細調節，SDG3000X是產生高精度脈衝訊號的理想裝置。
40Mpts/ch任意波長度，完美復現訊號
SDG3000X內建196種任意波形，40Mpts/ch大容量波形記憶體可完整儲存且高精度重複複雜訊號細節，結合彈性的序列播放功能，輕鬆設定各段波形循環次數及波形播放順序，滿足多樣化的測試需求。
靈活訊號生成，覆蓋複雜測試需求
SDG3000X支援120Mbps PRBS碼型輸出，並可在250~50MSymb/s符號速率範圍內產生優異EVM性能的基頻或中頻IQ訊號，及多種調變功能（AM/DSB-SC/FM/PM/FSK/ASK/PSK/PWM）。結合Sweep和Burst功能，SDG3000X輕鬆應對從科學研究教育到功率元件測試的全場景挑戰。
雙脈衝測試方案，助力半導體測試
雙脈衝測試是半導體功率元件動態特性分析的關鍵方法，用於評估開關損耗、導通特性等核心參數。結合通道追蹤與相位同步技術，SDG3000X支援精確控制脈衝寬度與間隔，適配IGBT、SiC MOSFET等裝置的多場景測試需求。透過USB/LAN遠端控制及示波器連動功能，SDG3000X輔助用戶快速建置自動化測試系統，提升測試效率與資料可靠性。
智慧互動體驗，操作更有效率便捷
SDG3000X配備7吋觸控屏，支援直覺的參數設定與訊號查看，簡化操作過程，並支援MATLAB、Python腳本導入及示波器連動進行自動校準。內建硬體高精度頻率計，配備LAN、USB、GPIB等多種通訊介面及內建WebServer，SDG3000X實現多設備級聯同步與遠端控制，全面提升測試效率與操作便利性。