_20240322.jpg)
SNA 系列的創新功能
SIGLENT 推出創新功能來優化 SNA 系列配置
在競爭日益激烈的當今世界，降低製造成本的同時進行快速、全面的生產測試是增強企業競爭力的秘訣，而最大限度降低成本的關鍵是優化現有向量網路分析儀的配置。 2024 年 6 月 20 日，SIGLENT 推出創新功能，將 SNA 系列的功能擴展到材料測試和多連接埠設備。 SIGLENT VNA 的可升級性有助於選擇適當的功能來滿足預算和測量要求，並透過升級韌體和添加新的應用軟體和技術來延長使用壽命，使您的測試資產保持最新狀態。
在開發毫米波 (mmWave) 頻率範圍內的解決方案時，材料測量是不可或缺的一部分，它可以提供材料的電或磁特性，這在許多研發領域證明是有用的。 PCB、天線、材料科學、微波電路設計、生物研究和汽車工程師以及計量和研究機構必須表徵各種材料，以更好地了解它們對電磁波傳播的影響，以實現更多預期的設計，或測試製造製程以控制產品品質等。
SNA 材料測試解決方案
SIGLENT 提供適合實驗室、製造和大學環境的全面材料測量解決方案，包括 SNA 系列精密儀器、MT 材料測量軟體、KWR42A 波導校準套件。 SNA系列網路分析儀可自動執行傳輸/反射線法測量9kHz至26.5GHz頻率範圍內的固體材料的介電常數和磁導率，具有出色的測量完整性和經濟適用性。
將被測材料插入一段傳輸線/波導中，並根據材料的反射和透過 MUT 的傳輸來推斷材料的特性。測量背後的原理是，加載樣品的傳輸線的特性阻抗與未加載樣品的傳輸線的特性阻抗不同。使用者需要了解材料的適當測量和轉換方法，以便測量其介電性能。如果使用了錯誤的方法，測量結果將不會令人滿意。測量精靈引導使用者完成測量過程，並且可以以多種格式繪製結果。
高級校準
除了測量和轉換方法外，精度也是一個重要的測量標準。精度取決於所使用的校準方法和轉換方法。 SIGLENT 提供 KWR42A 波導校準解決方案，涵蓋 18 GHz 至 26.5 GHz 頻率範圍，能夠進行透過反射線 (TRL) 校準。此方法代表了修正同軸測量誤差的最精確方法，能夠使用三種簡單的連接方法來確定測量設備誤差模型內的所有誤差分量。
隨著行動通訊、微波積體電路技術的快速發展以及裝置效能要求的提高，縮小尺寸、成本、重量和功耗的需求正在推動複雜的多連接埠元件取代分立元件。許多設備在單一組件上整合了多種功能，例如手機的FEM模組、MIMO天線等。裝置的高度整合和無線技術的廣泛應用促進了通用元件（如天線、濾波器、電纜等）的大規模生產，產生了多端口測試的需求。
SNA 多埠測試解決方案
憑藉著高性價比的多埠擴充設計理念，SIGLENT 提供靈活、簡單的操作、校準和配置。 SSM單機可擴展輸出端口至24個，並可輕鬆集成，極大適應自動測試系統和生產線場景。無論是測量差分裝置、高整合多埠裝置或多個單埠裝置，都可以根據使用者的特定測量需求提供不同的多埠測試解決方案，顯著縮短測試時間。 VNA的多埠測量能力可提高測試吞吐量，從而顯著降低設備測試成本。典型應用包括天線、數據轉換器介面的設計、驗證和生產、射頻元件和其他設備的自動測試等。
進階校準
校準多埠 VNA 測試系統比校準 2 埠或 4 埠 VNA 更耗時且複雜。使用者可以使用電子校準套件或機械校準套件進行校準，但是使用機械校準套件來校準10端口或20端口聽起來很複雜。 ECal是一種非常方便的校準方法，在保持精度的同時大大簡化了多端口校準，並且可以替代傳統的機械校準套件，提供一致的校準結果並避免人為錯誤。 SIGLENT提供2/4埠電子校準解決方案，頻率範圍為9 kHz-26.5GHz。保持VNA的一個連接埠和ECal的一個連接埠不變作為參考，所有其他連接埠都可以連接到ECal一次以表徵所有連接埠的特性。 S參數精靈可以有效地引導使用者完成校準，並確保所有需要的連接埠組合都已校準。
面向未來的材料測試
材料測試挑戰在開發毫米波 (mmWave) 頻率範圍內的解決方案時，材料測量是不可或缺的一部分，它可以提供材料的電或磁特性，這在許多研發領域證明是有用的。 PCB、天線、材料科學、微波電路設計、生物研究和汽車工程師以及計量和研究機構必須表徵各種材料，以更好地了解它們對電磁波傳播的影響，以實現更多預期的設計，或測試製造製程以控制產品品質等。
SNA 材料測試解決方案
SIGLENT 提供適合實驗室、製造和大學環境的全面材料測量解決方案，包括 SNA 系列精密儀器、MT 材料測量軟體、KWR42A 波導校準套件。 SNA系列網路分析儀可自動執行傳輸/反射線法測量9kHz至26.5GHz頻率範圍內的固體材料的介電常數和磁導率，具有出色的測量完整性和經濟適用性。
將被測材料插入一段傳輸線/波導中，並根據材料的反射和透過 MUT 的傳輸來推斷材料的特性。測量背後的原理是，加載樣品的傳輸線的特性阻抗與未加載樣品的傳輸線的特性阻抗不同。使用者需要了解材料的適當測量和轉換方法，以便測量其介電性能。如果使用了錯誤的方法，測量結果將不會令人滿意。測量精靈引導使用者完成測量過程，並且可以以多種格式繪製結果。
高級校準
除了測量和轉換方法外，精度也是一個重要的測量標準。精度取決於所使用的校準方法和轉換方法。 SIGLENT 提供 KWR42A 波導校準解決方案，涵蓋 18 GHz 至 26.5 GHz 頻率範圍，能夠進行透過反射線 (TRL) 校準。此方法代表了修正同軸測量誤差的最精確方法，能夠使用三種簡單的連接方法來確定測量設備誤差模型內的所有誤差分量。
將功能擴展到多埠設備
多埠測試挑戰隨著行動通訊、微波積體電路技術的快速發展以及裝置效能要求的提高，縮小尺寸、成本、重量和功耗的需求正在推動複雜的多連接埠元件取代分立元件。許多設備在單一組件上整合了多種功能，例如手機的FEM模組、MIMO天線等。裝置的高度整合和無線技術的廣泛應用促進了通用元件（如天線、濾波器、電纜等）的大規模生產，產生了多端口測試的需求。
SNA 多埠測試解決方案
憑藉著高性價比的多埠擴充設計理念，SIGLENT 提供靈活、簡單的操作、校準和配置。 SSM單機可擴展輸出端口至24個，並可輕鬆集成，極大適應自動測試系統和生產線場景。無論是測量差分裝置、高整合多埠裝置或多個單埠裝置，都可以根據使用者的特定測量需求提供不同的多埠測試解決方案，顯著縮短測試時間。 VNA的多埠測量能力可提高測試吞吐量，從而顯著降低設備測試成本。典型應用包括天線、數據轉換器介面的設計、驗證和生產、射頻元件和其他設備的自動測試等。
校準多埠 VNA 測試系統比校準 2 埠或 4 埠 VNA 更耗時且複雜。使用者可以使用電子校準套件或機械校準套件進行校準，但是使用機械校準套件來校準10端口或20端口聽起來很複雜。 ECal是一種非常方便的校準方法，在保持精度的同時大大簡化了多端口校準，並且可以替代傳統的機械校準套件，提供一致的校準結果並避免人為錯誤。 SIGLENT提供2/4埠電子校準解決方案，頻率範圍為9 kHz-26.5GHz。保持VNA的一個連接埠和ECal的一個連接埠不變作為參考，所有其他連接埠都可以連接到ECal一次以表徵所有連接埠的特性。 S參數精靈可以有效地引導使用者完成校準，並確保所有需要的連接埠組合都已校準。