上電序列分析現代電子系統包含各種晶片和模組,它們的初始化和運作可能會相互幹擾。上電
時序測試可確保不同電路模組的訊號遵循正確的時序,從而避免衝突並確保系統 穩定性。例如,通訊系統中不適當的上電時序可能導致資料傳輸錯誤。隨著電路 複雜度的增加,上電測試的挑戰也隨之增加。 SDS5000X HD 可在單次擷取中捕 捉所有相關訊號的整個上電過程,從而縮短測量時間,提高效率,並最大限度地 減少重複測試造成的誤差。對於具有 8 個電源軌的複雜電路,此功能可實現一次 性測量。 |
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三相電源分析使用 8 通道示波器進行三相功率分析,可同時連接所有相。它同步測量三相電壓
和電流訊號,即時精確捕捉波形和參數。使用者可以直接觀察和比較相位關係, 以確保平衡。透過快速傅立葉變換 (FFT) 功能,多通道示波器可對三相信號進行 諧波分析。可選的三相分析軟體支援馬達向量圖測試、電能品質評估、漣波分析 和效率評估。 |
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完整的寬頻隙半導體測試解決方案Siglent 最新推出的 8 通道示波器和光隔離探頭,為寬頻隙半導體測試難題畫下
了圓滿的句號。 SDS5000X HD 實現了皮秒 (ps) 等級的上升時間,能夠捕捉碳 化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 裝置的快速開關波形。它可以分析開關過程中的瞬態 電壓和電流變化,以及過衝和振鈴等特性,從而優化電路設計和訊號完整性。 |
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採用SDS5000L的靈活多通道高速擷取系統
SDS5000L 結構緊湊,高度僅 1U,可靈活建構多通道擷取系統。多個單元可組
合使用,透過 64 通道同步分配器 SYN64 的低偏移同步訊號觸發,組成高達 512 通道的高速擷取系統。主機可透過 1000M 區域網路存取每個單元。系統提供完 整的 SCPI 命令集以及 LabVIEW 和 IVI 驅動程序,方便資料擷取。 LAN 連接埠 符合 LXI 標準。透過菊花鏈級聯 10 MHz 輸入和 10 MHz 輸出時鐘,可同步測試 系統中所有單元的取樣時脈。 |
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