Siglent SNA5000A系列向量網絡分析儀 (9 kHz ~ 26.5 GHz)

產品特點:
  • 頻率範圍：9 kHz ~ 8.5 GHz 及 100 kHz - 26.5 GHz
  • 輸出設置範圍：-55 dBm ~ +10 dBm 
  • 動態範圍：125 dB 
  • 支援 2/4 連接埠散射參數、差分參數和時域參數量測
  • 支援一鍵量測濾波器的Q因數、頻寬和插入損耗
  • 支援阻抗轉換、夾具模擬和轉接器移除/插入調整
  • 選配頻譜分析儀和TDR功能

低本底雜訊和寬動態範圍，可實現精確測量

系統動態範圍，即測試埠可用測量功率與接收器本底雜訊之間的差異，是 VNA 的關鍵參數。
SIGLENT SNA5000A 動態範圍高達 125 dB@10 Hz IFBW，本底雜訊低至 -125 dBm/Hz，
可同時滿足濾波器的測試通帶和帶外抑制等特定射頻測試要求。

豐富的測量和顯示格式

SNA5000A支援散射參數測量、差分參數測量、接收機測量、時域參數分析、極限測試、漣波測試、增強時域參數分析（TDR）。 

有添加跡線和視窗的快捷方式來執行完整的 4 埠 S 參數測量。
Log Mag、Lin Mag、Phase、Delay、Smith、SWR、Polar等多種顯示格式可方便分析

DUT傳輸和反射係數、SWR、阻抗匹配、相位、延遲。在天線和濾波器製造中，參考跡線和極限測試可以提高生產效率。

增強型時域分析 (TDR)

SNA5000A TDR選件包含兩部分：TDR/TDT（時域反射/傳輸）和眼圖/模板。 

TDR直觀地顯示阻抗不連續位置和特性。它可以指示傳輸線上各點的阻抗，
有助於定位故障點。透過時域選通，可以輕鬆消除某些失配的影響。它有助於分析故障對 DUT 特性的影響。

無需外部產生器，即可透過內部虛擬模式產生器產生眼圖。 Eye/Mask 是一個真正的訊號整合分析工具。
眼圖功能提供高性能的波形模擬能力。無需改變外部連接，在發送端應用預加重/去加重技術，
在接收端應用均衡技術，可輕鬆提高訊號傳輸品質。
Eye函數也提供了抖動注入功能，可以模擬有抖動的訊號，看看它能為訊號傳輸帶來什麼影響。

將功能擴展到多埠設備

SSM單機可擴展輸出端口至24個，並可輕鬆集成，極大適應自動測試系統和生產線場景。
VNA的多埠測量能力可提高測試吞吐量，從而顯著降低設備測試成本。
典型應用包括天線、數據轉換器介面的設計、驗證和生產、射頻元件和其他設備的自動測試等。

面向未來的材料測試

SIGLENT 提供適合實驗室、製造和大學環境的全面材料測量解決方案，
包括 SNA 系列精密儀器、MT 材料測量軟體、KWR42A 波導校準套件。
測量精靈引導使用者完成測量過程，並且結果可以多種格式繪製。

進階校準

SIGLENT 提供各種頻率範圍高達 26.5 GHz 的校準套件，可滿足通用和精密級要求。
SNA5000A VNA 中提供了其他電子測試設備製造商的校準套件，
並且支援導入使用者定義的校準套件，節省客戶的校準投資。