Cybertek EMI測試系統EM5030E （30MHz～3GHz）高頻電場探頭

產品特點:
  • EM5030/EM5030LF系列頻率範圍: 30MHz-3GHz
  • 包含7個專門用來測試磁場探頭
  • 有效屏蔽電場干擾
  • EM5030E共2種探頭形狀
 

概述

EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場幹擾（E），主要用於電磁相容整改時定位幹擾源的近場探頭。 EM5030的頻率範圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率範圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。
EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭，涵蓋頻率範圍為30MHz到3GHz，主要應用於尋找電場幹擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設計。
探頭經由50Ω的電纜直接與頻譜儀或示波器連接。當產品的輻射或傳導幹擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾，能夠檢測模組之間的耦合通道以及評估系統內訊號切換速率、RF電壓等。當幹擾訊號比較弱時，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或EM5020B(30dB增益)前級放大器可以提高系統測試靈敏度。